阻垢劑的使用

 可用于評(píng)定阻垢劑性能的方法很多，如用掃描電子顯微鏡可觀(guān)察晶體的成核、生長(zhǎng)、聚集和吸附過(guò)程。用原子力顯微鏡研究有阻垢劑存在的碳酸鈣晶體的生長(zhǎng)，可以看出阻垢劑對(duì)生長(zhǎng)的抑制作用。用X一衍射法可以比較在不同阻垢劑存在的條件下垢樣的細(xì)碎程度、晶體的畸變程度及晶系的變化。用粒徑分布儀可研究在不同阻垢劑存在的條件下，成垢物質(zhì)的成核和生長(zhǎng)動(dòng)力學(xué)。但這些方法大多需借助專(zhuān)門(mén)的儀器，只能被研究機(jī)構(gòu)采納，很難在廣大用戶(hù)和現(xiàn)場(chǎng)評(píng)定中推廣。